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联系人:王昕
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          广州市昆德科技有限公司是以世界著名的中国半导体物理学家黄昆、谢希德姓名中的最后一字命名的半导体科技公司,2003年10月9日经广州市工商行政管理局批准成立。公司主要从事半导体物测仪器的生产和开发,主要产品有四探针电阻率测试仪、少子寿命测试仪、导电型号测试仪、无接触测试仪及相关配套产品。公司以原在广州半导体材料研究所,从事半导体材料测试及仪器开发,长达40多年历史的数位高级工程师及有创业精神的年轻大学生为主要技术力量,以中国老一辈科学家为榜样,为创造出最好性价比的产品而努力工作。
 
       在本公司工作的技术负责人获得过以下的科技成果奖:
1、精密四探针头                                     1978年全国科学大会奖
2、双光源单晶寿命测试仪                     1982年广东省科技成果三等奖
3、三探针外延片电阻率测试仪             1984年广东省科技成果三等奖
4、半导体陶瓷数字电阻仪                     1988年中国有色金属工业总公司广州公司科技成果一等奖
5、探测器级大直径高阻硅单晶             1991年广东省科技进步二等奖
6、功能材料微区特性测试仪                 1994年中国有色金属总公司科技进步三等奖
       本公司科技人员获得的中华人民共和国专利如下:
1、精密四探针头                                     1986年实用新型  第537号
2、上下探针测试装置                             1990年实用新型  第35933号
3、多功能探针头                                     1994年实用新型  专利号ZL 93 2 17110.9
4、测量电阻率的小游移探针头             2005年实用新型  专利号ZL 03 2 74755.1
5、低阻单晶寿命测试仪                         2007年实用新型  专利号200720059959.8
6、长寿命拔插式探针头                         2010年实用新型   专利号201020131457.3 
7、长寿命精密探针头                             2010年实用新型   专利号201020131461.X
8、微波光电导少子寿命测试仪             2011年实用新型   专利号201120545038.9
9、一种超声雾化远红外加热熏蒸仪及其使用装置          2012年实用新型   专利号201220432849.2
10、一种超声雾化远红外加热熏蒸仪及其使用装置        2012年发明专利   专利号201210311453.7
11、基于表面光压法的半导体材料参数测试仪                2013年实用新型   专利号201320554914.3

12、基于表面光压法的半导体材料参数测试仪及测试方法            2013年发明专利   专利号201310404941.7

13、对薄层材料进行无损测量的方块电阻测试仪                            2013年实用新型   专利号201320589025.0

14、对薄层材料进行无损测量的方块电阻测试仪及其测试方法    2013年发明专利   专利号201310444506.7  

15、扫描式微波反射法载流子复合寿命测试系统                    2014年实用新型    专利号201420582020.X

16、扫描式微波反射法载流子复合寿命测试系统及测试方法       2014年发明专利     专利号201410528794.9

17、基于电容充放电原理的半绝缘半导体电阻率测绘仪              2015年实用新型     专利号201520662067.1

18、基于电容充放电原理的半绝缘半导体电阻率测绘仪及测绘方法 2015年发明专利 专利号201510547010.1

等等

公司科技人员参加的主要国家级会议:

本公司王世进总工作为特邀嘉宾参加并发表了演讲:

20098月第五届中国(上海)太阳级硅及光伏发电研讨会,演讲内容:多晶硅的质量检验及若干问题的探讨;

20107月第二届中国(呼和浩特)光伏发电研讨会,演讲内容:晶体硅重要指标的关键测量技术;

201012月第十九届中国(上海)半导体材料学术年会,演讲内容:太阳能级硅晶体载流子复合寿命的测量。

      公司发表的论文有:

      “新型电子薄层材料方块电阻测试的研究”

      “半绝缘半导体电阻率无接触测试设备的研究”

    本公司为全国半导体设备和材料标准化技术委员会下属分会会员单位,参与国家半导体材料测试标准的制订和修改工作。
       
        公司获得的荣誉证书有:
高新技术企业证书
 
 
广州市科技创新小巨人企业
 

 
知识产权管理体系认证证书
 

 
 
        参与起草的国家标准有:
    “GB/T 26068-2010硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法”;
    “GB/T 22638.6-201X铝箔试验方法第6部分:直流电阻的测定”

   

 
    公司地址:广州市白沙水路123号3楼(长湴新工业区4栋3楼)      邮  编:510650         
    网址:http://www.gzkdkj.com        E-mail:gzkunde@163.com    
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