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我公司参加了2015年7月在焦作召开的半导体材料标准会议

 来源:gzkdkj    发布时间:2015-7-17
         2015715-17日,我司参加了在焦作召开的半导体材料标准会议,会议分两组进行讨论,我司参加了锗材料组,包括《高纯二氧化锗》、《还原锗锭》、《区熔锗锭》、《区熔锗锭化学分析方法 1部分  砷含量的测定  砷斑法》和《区熔锗锭化学分析方法 2部分 铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》等5项讨论项目,会上对《区熔锗锭电阻率测试方法  两探针法》进行了任务落实,我司将作为复核单位参加该标准的工作。

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