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产品名称:KDB-1电阻率/方块电阻测试仪(广量程)
产品型号:KDB-1
生产厂商:广州市昆德科技有限公司
产品编号:
产品单价:
所属栏目:热卖产品-->四探针电阻率/方阻测试仪系列
产品简介

 该设备为广东省2013年创新基金资助项目(2013B011201298)。

本方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护,在宽广的量程范围内,使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。

由于新型薄膜材料种类繁多,研制过程中样品性能变化较大,而且各种薄膜的机械强度,允许承受的电压、电流均不相同,因此KDB-1型测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头,仪器的测试电流分7档,可由0.4μA增加到最大为1000mA,测试电压可由8V增加到80V,测试电压和测试电流均可连续调节,给薄膜、涂层的研制者提供了一个摸索最佳测试条件的宽阔空间。

由于仪器设有恒流源开关,并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的功能,充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。

仪器性能

方阻测量范围:1×10-52×106Ω/,最小分辨率1×10-5Ω/

电阻率测量范围:1×10-62×105Ω·cm1×10-82×103Ω·m,最小分辨率1×10-6Ω·cm1×10-8Ω·m

探针压力:25g250g

探针曲率半径:25μm450μm

(注:探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制);

测试电流分7档:1μA10μA100μA1mA10 mA100 mA1000 mA

测试电压:(1μA10 mA档)1280V连续可调

           100mA档)    836V连续可调

          1000mA档)    815V连续可调;

测量方式:手动或自动(配置专用测试软件);

测量对象:导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种新型电子薄膜;各种半导体材料的电阻率。

 

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