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产品名称:WJ-200B硅锭载流子寿命扫描测试系统
产品型号:WJ-200B
生产厂商:广州市昆德科技有限公司
产品编号:
产品单价:
所属栏目:热卖产品-->扫描式微波光电导寿命测试仪系列
产品简介
 

        WJ-200B是针对大尺寸硅锭的测量而设计,可沿端面中轴线(Y轴),从硅锭头部向尾部以选定的间隔扫描测量;可在端面X轴方向从左到右(或从右到左),以选定的间隔扫描测量;可对整个端面做全扫描测量。以上三种测试方式均可由专用软件绘制测试结果彩色分布图、等高图、曲线图。

技术参数:

寿命测量范围:0.25μs-10ms

电阻率测量范围:≥0.1-1Ω·cm

最大可测样品尺寸:156×156×长mm(可根据用户需求订制);

扫描分辨率(mm):0.5124816

寻边方式:微波自动寻边;

微波频率:10GHz

红外激光波长:905nm

脉冲频率:≈40Hz

脉冲宽度:80-200ns可调;

测量重复性:短期不确定度优于±10%

每点测量时间:0.6sec(含探头移动及及数据采集计算时间)。

 

 

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